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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:華測儀器塞貝克系數(shù)電阻測試儀 測量半導(dǎo)體薄膜材料

  • 產(chǎn)品型號:HC-RD-1100
  • 產(chǎn)品廠商:華測
  • 產(chǎn)品價格:0
  • 折扣價格:0
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簡單介紹:
華測儀器的HC-RD-1100可以同時測定樣品在RT至1500°C溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。熱功率、熱電勢、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應(yīng)熱電電壓的大小,單位是V/K。
詳情介紹:

應(yīng)用領(lǐng)域

01.熱電材料開發(fā)與性能優(yōu)化

     測量半導(dǎo)體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數(shù)與電導(dǎo)率,計算ZT值(熱電優(yōu)值)

     評估材料在高溫(如1500℃)或極端環(huán)境(真空/還原氣氛)下的熱電轉(zhuǎn)換效率

02.能源材料與器件研究

     鋰離子電池電極材料、固態(tài)電解質(zhì)的電阻率與界面接觸特性分析

     燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導(dǎo)電性能測試

03.電子與功能材料表征

     半導(dǎo)體薄膜、導(dǎo)電高分子、金屬氧化物的電輸運特性研究

     高溫超導(dǎo)材料、陶瓷基復(fù)合材料的電阻-溫度關(guān)系曲線測定

04.工業(yè)材料質(zhì)量控制與工藝優(yōu)化

     合金、陶瓷、碳材料的熱-電協(xié)同性能檢測,指導(dǎo)燒結(jié)工藝參數(shù)調(diào)整

     高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況(如真空、惰性氣氛)下的電學(xué)行為評估

05.科研與標(biāo)準(zhǔn)化測試

     高校及科研院所用于熱電效應(yīng)、導(dǎo)電機制等基礎(chǔ)理論研究

     依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)(如ASTM E1225)開展材料熱電性能認(rèn)證測試

測試軟件

經(jīng)過專家團隊與應(yīng)用工程師的聯(lián)合攻關(guān),華測儀器研發(fā)出新一代智能測量軟件。該軟件深度集成計算機控制系統(tǒng),適配Windows 10/11操作系統(tǒng),可自動完成信號激勵、數(shù)據(jù)采集、實時處理及結(jié)果輸出全流程,并通過可視化界面直觀呈現(xiàn)測試成果,顯著提升了操作便捷性與測試效率。

特點

01.文本編輯

02.重復(fù)測量可少的輸入?yún)?shù)

03.實時測量分析

04.測量曲線比較:多達32條曲線

05.曲線扣除

06.曲線放大縮小

07.一階/二階求導(dǎo)

08.多重峰分析

09.樣品溫度多點校正

10.多種方法分析(DSC TG 、TMA、DIL等)

11.焓變多點校正

12.熱流Cp測量

13.評估結(jié)果保存及導(dǎo)出

14.ASCII數(shù)據(jù)導(dǎo)入與導(dǎo)出

15.數(shù)據(jù)生成到MS Excel

16.信號控制測量測序

產(chǎn)品優(yōu)勢

01.寬溫區(qū)覆蓋與高適應(yīng)性

  支持 RT 至 1500℃℃ 超寬溫度范圍,兼容低溫至超高溫測試,滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求

  提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境,適配材料在不同反應(yīng)條件下的性能評估

02.高精度與多功能集成

  塞貝克系數(shù)測量范圍 1~2500uV/K,準(zhǔn)確度達 士7%,重復(fù)性 士3%,精準(zhǔn)捕捉微弱熱電效應(yīng)

  電導(dǎo)率測量范圍覆蓋 0.01~2x105S/cm,準(zhǔn)確度士5~8%,支持從絕緣體到導(dǎo)體的全品類材料電阻率分析

  采用靜態(tài)直流法(塞貝克系數(shù))與四端法(電阻率),確保測量結(jié)果穩(wěn)定可靠

03.靈活兼容性與操作便捷性

  支持圓柱形(φ6mm)、棱柱形(2~5mm面寬)及圓盤狀(10~25.4mm)多種樣品尺寸,適配復(fù)雜形狀試樣

  可調(diào)探頭距離(4/6/8mm)與三明治夾持結(jié)構(gòu),保障樣品接觸穩(wěn)定性,減少測量誤差

  電極材料可選鎳(-100~500°C) 或鉑(-100~1500°C),靈活應(yīng)對不同溫區(qū)與材料特性

04.高穩(wěn)定性與長周期測試能力

  電源輸出 0~1A,具備長期穩(wěn)定性,支持連續(xù)高溫實驗與長時間數(shù)據(jù)采集

  配備K/S/C型熱電偶,實現(xiàn)精準(zhǔn)溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制

技術(shù)指標(biāo)

01.溫度范圍:RT ~ 800/1100/1500℃

02.測量原理塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法 ; 電阻率:四端法

03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空

04.樣品支架:三明治結(jié)構(gòu)夾與兩電極之間

05.樣品尺寸(圓柱形或棱柱形):2至5 mm(面寬),23mm,φ6mm,23mm

06.樣品尺寸(圓盤狀):10、 12.7、 25.4 mm

07.可調(diào)探頭距離:4、 6、 8 mm

08.塞貝克系數(shù)測量范圍:1 ~ 2500μV/K準(zhǔn)確度±7%;重復(fù)性±3%

09.電導(dǎo)率測量范圍:0.01 ~ 2*10^5s/cm準(zhǔn)確度±5-8%;再現(xiàn)性±3%

10.電源:0 ~ 1A,具長期穩(wěn)定性

11.電極材料:鎳(-100至500°C)/鉑(-100至+1500°C)

12.熱電偶:K/S/C型

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